RB-LT1000系列大功率半導(dǎo)體激光芯片器件老化/壽命測(cè)試機(jī)
驅(qū)動(dòng)電流
0.1--20A
供電要求
210-230V AC 25A/50Hz
溫度控制
TEC+水冷
功率測(cè)量
0-20W
光譜測(cè)量
350-1100nm或900-1700nm
設(shè)備尺寸
1360mm*2100mm*694mm
產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概要：
在可控溫度的工作臺(tái)上，對(duì)封裝之后（COS、TO56、C-mount、F-mount、CCP、Butter-fly等封裝形式）的半導(dǎo)體激光芯片器件進(jìn)行。
-對(duì)貼片好的大功率COS、C-mount、TO封裝模塊實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期壽命測(cè)試和短期老化測(cè)試
-長(zhǎng)期壽命測(cè)試型： 可對(duì)100個(gè)器件同時(shí)做加速壽命測(cè)試，對(duì)每個(gè)器件監(jiān)測(cè)光功率和波長(zhǎng)
-短期老化型：可對(duì)250個(gè)器件同時(shí)做短期老化測(cè)試, 不監(jiān)測(cè)光功率和波長(zhǎng)
-混合型： 業(yè)界首個(gè)兼顧長(zhǎng)期壽命測(cè)試和短期老化測(cè)試的設(shè)備
-標(biāo)準(zhǔn)電流范圍0-18A （總負(fù)載功率比較小的情況下，最大電流可以到30A）
產(chǎn)品特點(diǎn)：
-集成度高（可同時(shí)進(jìn)行100pcs大功率激光芯片的測(cè)試）
-實(shí)時(shí)監(jiān)控和記錄每工位激光芯片的狀態(tài)：激光功率、峰值波長(zhǎng)、光譜寬度
-優(yōu)良的內(nèi)部潔凈環(huán)境（百級(jí)-千級(jí)）
-良好的安全防護(hù)及故障提醒機(jī)制
-實(shí)時(shí)監(jiān)控和記錄設(shè)備的工作狀態(tài)：多點(diǎn)位置溫度、冷卻水流量、電源電流&電壓
-友好的人機(jī)交互界面，操作簡(jiǎn)單，易于使用
-提供脫機(jī)老化數(shù)據(jù)分析的專用軟件
-測(cè)試過程中，提供老化測(cè)試的停止和重新開啟功能
-可靈活增加、減少激光芯片的數(shù)量，每個(gè)激光芯片的老化時(shí)間獨(dú)立累計(jì)
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